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NAN-TDY08金屬薄片挺度測(cè)試儀是我司根據(jù)市場(chǎng)需求研發(fā)的非金屬材料彎曲彈性強(qiáng)韌性能檢測(cè)儀器,用于紙張、塑料、金屬薄片(如鋁箔)、復(fù)合材料(石墨片、光學(xué)膜)等多種材料抗彎曲性能,是工業(yè)材料領(lǐng)域彎曲、脆性、柔韌性等性能的常用分析儀器。作為一種高性能、輕質(zhì)化的材料,正逐漸在工業(yè)領(lǐng)域嶄露頭角。纖維的高強(qiáng)度、高模量、耐腐蝕、抗疲勞等性能正待開發(fā),適用于航天航空、機(jī)械、電子、化工、通訊、能源、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境工程、建筑、汽車工業(yè)等領(lǐng)域。
標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)
GB/T23144材料彎曲挺度的測(cè)定兩點(diǎn)法、三點(diǎn)法和四點(diǎn)法的通用原理
Determinationofbendingstiffness—Generalprinciplesfortwo-point,three-pointandfour-pointmethods
ISO 5628《紙和紙板—靜態(tài)彎曲挺度測(cè)定一般原理》
ISO 2493《紙和紙板 抗彎曲度測(cè)定 第1部分:恒定撓度率》
產(chǎn)品特點(diǎn)
• 7in觸摸屏帶曲線顯示,中英文雙語(yǔ)言自由切換;
• 測(cè)試角度可調(diào):(1~90)°之間任意設(shè)置;
• 測(cè)試時(shí)間可在(2~50)s之間任意數(shù)字設(shè)置;
• 具有自動(dòng)調(diào)零功能,測(cè)試前無(wú)需人工對(duì)靠試樣;
• 測(cè)試完成后高速返回到起始位置,返回速度可在(1~10)之間任意設(shè)置;
• 測(cè)試角度變化由電機(jī)全自動(dòng)控制,提高測(cè)量效率,減少了人為的影響;
• 測(cè)試完成自動(dòng)復(fù)位,試時(shí)力值、角度值自動(dòng)清零,提高測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性;
• 具備測(cè)量統(tǒng)計(jì)、打印等功能,方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作及數(shù)據(jù)查看;
技術(shù)參數(shù)
1、試樣尺寸:5~70mm,根據(jù)材料的實(shí)際情況而定
2、測(cè)試力臂范圍:5-25-50,7檔力臂可調(diào)
3、跨距精度:±0.1mm
4、測(cè)量范圍:(0~20000)mN
5、傳感器:傳感精準(zhǔn)度 ±0.1%,
6、分辨力:0.01mN
7、彎曲角度: 1~90°無(wú)極可調(diào)
8、角度精度:±0.1
9、測(cè)量厚度:5mm
10、曲線分析:帶彎曲強(qiáng)度-曲線分析(可定制)
11、脆性峰值分析:可捕捉材料脆性峰值與屈服角度數(shù)據(jù)
12、彎曲時(shí)間:根據(jù)材料的彈性選擇不同的彎曲時(shí)間
13、傳感器更換:可快速更換傳感器
14、操作界面:7寸觸摸屏操作界面,中英文系統(tǒng)
15、安全防護(hù):配備工作臺(tái)安全防護(hù)罩,保護(hù)測(cè)試夾具、防塵防御放砸
16、夾持方式:氣動(dòng)無(wú)限制加持,可無(wú)損連續(xù)夾持
17、自我校準(zhǔn):設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)自我校準(zhǔn),標(biāo)配校準(zhǔn)工具
18、打印輸出:模塊式一體熱敏打印機(jī)
19、電源:220V,50HZ
20、設(shè)備重量:26kg
NAN-TDY08金屬薄片挺度測(cè)試儀適用范圍
線材抗彎性能測(cè)試?:包括各種纖維線材、電源線、金屬排線等?
?塑料抗彎性能測(cè)試?:如薄膜、光學(xué)膜片、無(wú)紡布、復(fù)合片狀材料等?
?紙張和紙板彎曲硬挺度測(cè)試??:用于各種紙張、紙板、紙盒
?金屬薄片抗彎性能測(cè)試?:如金屬薄片、導(dǎo)光板、擴(kuò)散板等?
?復(fù)合材料彎曲回彈性能測(cè)試?:如石墨片材、云母片材、復(fù)合材料等?
?彩盒?折痕挺度測(cè)試:用于各種彩盒、牙膏盒等包裝盒
?電子線材?耐彎折性能測(cè)試:如電子線材、排線等
更多材料應(yīng)用:
工業(yè)紙張彎曲挺度測(cè)試 | 纖維材料彎曲挺度測(cè)試 | 紡織材料彎曲挺度測(cè)試 | 紙板紙盒彎曲挺度測(cè)試 |
塑料板材彎曲挺度測(cè)試 | 薄膜復(fù)合膜材料彎曲挺度測(cè)試 | 玻璃纖維材料彎曲挺度測(cè)試 | 電子線材彎曲挺度測(cè)試 |
材料檢測(cè)儀器分類 Classification of testing instruments —— | ||